Euspen in Bilbao

Auch in diesem Jahr nahm die SIOS an der internationalen Konferenz EUSPEN in Bilbao/ Spanien teil. Die Veranstaltung fand im Euskalduna Jauegia Konferenzzentrum statt. Unser Geschäftsführer Dr. Dontsov war mit einem Vortrag beim Workshop „Industrial in-process manufacturing metrology“ unter der Leitung von Prof. Richard Leach, University of Nottingham, vertreten.

Zur gleichzeitig stattfindenden Ausstellung präsentierte die SIOS unsere Kalibriersysteme sowie das Differenz-Interferometer SP 5000 DI mit extrem hoher Langzeitstabilität. Unser Vertriebsleiter Herr Grundschok informierte in der Commercial Session über die neuesten Interferometer-Entwicklungen für die Maschinenkalibrierung.

Die Veranstaltung zeichnet sich durch ein sehr hohes fachliches Niveau bei steigender Teilnehmerzahl aus.

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