Webinar: Wie kann man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen?

am 30. September 2021, 8:30 Uhr und 15:30 Uhr, MEZ Berlin

Referenten: Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz

 

Technologische Entwicklungen von heute folgen in vielen produzierenden Industriezweigen einem gemeinsamen Trend: Die Produkte werden komplexer und leistungsfähiger, die Anforderungen an die Fertigungsqualität steigen stetig, dabei werden die Bauteile und Objektstrukturen immer kleiner und kompakter.

Webinar: mit SIOS Messsystemen bis in den Nanometerbereich messen

Der zunehmende industrielle Einsatz mikro- und nanotechnologischer Objekte führt im Gegenzug zu immer höheren Anforderungen an die Messtechnik, die bei der Herstellung, der Verifikation und Positionierung eingesetzt wird. Die Aufgaben werden auf immer größer werdenden Objekten realisiert, so dass eine Verknüpfung zwischen der Makro- und Nanowelten erfolgen muss.
Nanometrologie ist nicht ausschließlich für die Forschung oder Halbleiterindustrie als Treiber des Trends von großem Interesse. Sie hat längst Einzug gehalten in Bereiche wie z. B. Nanoelektronik, Mikrooptik, Gentechnologie, Molekularbiologie, Werkstoffforschung u.v.m.

In unserem ca. 45-minütigen Webinar erfahren Sie, wie man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen kann.
Unsere Experten Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz geben Informationen zu folgenden Schwerpunkten:

Sehr gern beantworten Ihnen unsere Referenten im Anschluss der Präsentation Ihre Fragen rund um das Thema der Nanometrologie.

JETZT REGISTRIEREN für das Webinar in englischer Sprache am:

30. Sept. 2021 // 8:30 Uhr

30. Sept. 2021 // 15:30 Uhr

 

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